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ST2500E高密度數(shù)?；旌闲盘?hào)測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半導(dǎo)體晶圓、器件測(cè)試和模塊系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。

ST2500A高性能數(shù)?；旌闲盘?hào)測(cè)試系統(tǒng)是基于ST2500系列產(chǎn)品擴(kuò)展的一套不僅能夠?qū)崿F(xiàn)數(shù)字信號(hào)測(cè)試，同時(shí)還能滿足了模擬測(cè)試需求的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有豐富的板卡資源(DFB32、FOVI50、OTMU、CBIT、SMU20)，可以滿足各類(lèi)數(shù)?；旌细卟⑿袦y(cè)試需求。

ST2516高性能數(shù)字混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)32~320個(gè)數(shù)字通道靈活組合配置，實(shí)現(xiàn)最高機(jī)器利用率。對(duì)于特殊的測(cè)試需求，該系統(tǒng)還支持?jǐn)U展更多的測(cè)試板卡及模塊，如SMU、HRAWG、HRDGT、BlueTooth、WiFi等測(cè)試模塊。

ST2564高性能數(shù)字混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)可以廣泛應(yīng)用于S0C/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、ClS、指紋芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、loT等半導(dǎo)體晶圓、器件測(cè)試和模塊系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。

eATE數(shù)?；旌闲盘?hào)測(cè)試系統(tǒng)是加速科技新推出的一款集成數(shù)字集成電路測(cè)試功能的緊湊型可移動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)支持50Mbps數(shù)據(jù)速率;業(yè)務(wù)功能板卡采用all-in-one設(shè)計(jì)模式，功能集成度高，體積小巧、簡(jiǎn)潔輕便，性?xún)r(jià)比高，是小型芯片驗(yàn)證的選擇。

ST7008無(wú)線綜合測(cè)試儀能夠支持Sub-6GHz多域并行測(cè)試，具有信號(hào)發(fā)送功能，能夠?qū)崿F(xiàn)頻率、解調(diào)特性及頻譜特性等測(cè)試，對(duì)未來(lái)無(wú)線測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有優(yōu)異的擴(kuò)充性。

EN-3020B分立器件參數(shù)測(cè)試儀采用上位計(jì)算機(jī)控制，集點(diǎn)測(cè)試和曲線掃描為一體，可實(shí)現(xiàn)點(diǎn)參數(shù)測(cè)試和圖示儀功能。軟件操作界面友好智能，在 PC 窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試參數(shù)即可完成填表編程，操作人員不需具備專(zhuān)業(yè)計(jì)算機(jī)編程語(yǔ)言知識(shí)，使用簡(jiǎn)捷方便。操作軟件采用填入式編程方法，專(zhuān)為國(guó)內(nèi)用戶開(kāi)發(fā)。

ENJ2005-A半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)采用脈沖測(cè)試法，脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。被測(cè)器件引腳接觸自動(dòng)判斷功能。系統(tǒng)采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試工裝，自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電 纜長(zhǎng)度引起的壓降，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。