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安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結(jié)合，可以輕易地確定單層膜和復(fù)合層疊膜的厚度和折射率。

安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀 SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm（深紫外）到3500 nm（近紅外）。傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用以分析厚度高達(dá)200μm的厚膜。

布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀無論是固體還是液體樣品，在工業(yè)環(huán)境中都能快速，符合人體工程學(xué)的安全處理樣品。

布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡ContourSP大面板計量系統(tǒng)擁有十多年的包裝計量專業(yè)知識，是上一代SP型號的高密度互連PCB（HDI-PCB）基板的測量吞吐量的兩倍以上。ContourSP專為在制造過程中測量PCB板的每一層而設(shè)計，并具有許多*功能，可為半導(dǎo)體封裝行業(yè)提供高的生產(chǎn)性能，便利性，可靠性和吞吐量。

布魯克Contour Elite X 工業(yè)光學(xué)顯微鏡大樣本的Contour Elite X 3D光學(xué)輪廓儀將的測量功能與業(yè)界大視野和高保真彩色或單色成像上的垂直分辨率結(jié)合在一起。沒有其他度量衡系統(tǒng)可以提供非接觸式精度，吞吐量，操作員便利性和成像功能來解決如此廣泛的生產(chǎn)度量衡應(yīng)用。

布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡布魯克的Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡為表面計量性能的設(shè)計和成本效率設(shè)定了新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。Contour Elite K具有出色的粗糙度和2D / 3D測量功能，高保真成像，以及業(yè)界的用戶友好界面，可在緊湊的系統(tǒng)中提供毫不妥協(xié)的計量和高保真成像。

布魯克InSight CAP自動原子力顯微鏡在*技術(shù)節(jié)點上，利用多圖案光刻技術(shù)對CMP提出了納米工藝控制要求，以滿足聚焦深度的需求。InSight CAP圍繞新一代的AFM掃描儀構(gòu)建，可在65μmX / Y掃描范圍內(nèi)提供小于10納米的改進(jìn)平面度。

布魯克Dimension Edge PSS原子力顯微鏡具有AutoMET™計量軟件的布魯克Dimension Edge™PSS原子力顯微鏡是LED基板和外延制造商的理想納米計量和納米檢查系統(tǒng)。作為Dimension Edge AFM平臺的擴(kuò)展，Edge PSS融合了Dimension AFM系統(tǒng)所享有的令人難以置信的價值和分辨率，同時還提供了產(chǎn)品