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S116 Surtronic泰勒霍普森粗糙度儀 USB連接 通過行業(yè)標準A類型USB接口和迷你USB接口，S-100系列測量儀能夠?qū)Χ喾N標準裝置提供多種連接選擇。 A類型USB A類型USB接口能夠用于連接便攜式打印機（ESC/POS兼容），參見“配件“頁或者標準USB儲存裝置，儲存結(jié)果、初始數(shù)據(jù)或者屏幕圖像。
UVCTest材料降解儀器使用亞太拉斯 UVCTest，研究暴露在以254nm為峰值的殺菌消毒UV-C輻射下，紡織品、塑料、油漆和產(chǎn)品的老化情況。
SEPAPMHE光老化分析儀Atlas SEPAP MHE光老化分析儀是為了加快高分子聚合物的加速光老化而設(shè)計，目的在于了解暴露在戶外的高分子聚合物的老化機理，并在分子水平上研究化學(xué)演化。
力科T3SP15D差分時域反射計 T3SP10D（10 GHz）和T3SP15D（15 GHz）通過真正的差分信號激勵DUT，TDR提供50 ps（T3SP10D）和35 ps（T3SP15D）的快速上升時間，故障分辨率（FR4）分別為4.2 mm和3 mm，DUT長度可達40 m，TDR采樣率最高可達10 MHz，并使用與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀相同的OSL校準標準。 由于外形小巧，重量輕，可選內(nèi)部電池
TK4150三相電源分析單元是一款專用于電動汽車充電樁（機）輸入側(cè)交流參數(shù)測量與分析的儀器，該儀器與其他設(shè)備一起，用于組建電動汽車充電樁（機）綜合測試平臺，適用于充電樁（機）進行全性能檢測（型式評價等）、出廠檢驗、到貨驗收等。
TK4250直流充電接口綜合測試與分析單元一款專用于電動汽車非車載充電機輸出側(cè)直流參數(shù)控制與轉(zhuǎn)換的儀器，配有標準直流充電插座，可用于非車載充電機互操作性測試、絕緣電阻模擬、低壓輔助電源測試等項目。
聯(lián)訊rBT1250 10G突發(fā)誤碼分析儀 rBT1250 專門針對 EPON、GPON 、XGPON及XGSPON應(yīng)用突發(fā)誤碼測試及分析。 rBT1250提供3個獨立通道數(shù)據(jù)碼型發(fā)生器和誤碼探測，支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析。碼型時序靈活可調(diào)，并針對器件測試需求，給相應(yīng)測試通道提供同步的激光器使能、模塊復(fù)位信號等低速控制通道。而且rBT1250 內(nèi)置時鐘恢復(fù)，可以自動測距，對長纖測試毫無問題。從
聯(lián)訊PBT8812 53GBaud PAM4誤碼儀 聯(lián)訊儀器 pBT8812 高性能8x112Gb/s誤碼分析儀，可支持多至8組業(yè)務(wù)通道。 - 各通道可獨立配置為NRZ或PAM4信號制式。 - 速率最高可支持56 GBaud (112Gb/s@Pam4)。
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